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如何提高语音IC电路抗干扰方法

发布日期:[2017-11-17 16:07]    共阅[]次
  语音IC使用中在很多的工厂遇到过一些很奇怪的问题,产品出货寄到客户那边,甚至在测试到包装过程中,测试没功能,检查电池(AG13水银电池和钮扣电池),发现已经鼓起,没有电压;如果装电池时间不长,会发现电池发热。重新换电池,测试功能一切正常,没有问题。这种问题在4E和9系列的语音IC都有发现。针对这种问题进行测试,先准备一个电流测语音IC的电流,条件允许还可以用一个示波器测OSC脚的电压。Reset测试:用新电池上电,电流开始有个Reset电流,很快电流降到1uA以下,连续上电多次,并没有发现Reset不良的现象。
抗干扰测试:
 在语音IC正常Reset后,对语音IC的几Input分别输入1-20us的Pulse,检测语音IC是否动作异常,并监测语音IC的Isb变化。测试发现当Pulse过来时,示波器测到语音IC OSC脚电压变低,指示语音IC退出Sleep状态,电流也会增加到2mA,但是不会维持在2mA,会很快降到1uA以下。 但是有时语音IC在电流从0uA变为2mA后,会一直维持在2mA,不会降到正常值,语音IC此时不能回到Sleep状态,由于电流一直维持在2mA,电池会慢慢耗尽。 
 语音IC会被Short pulse唤醒的现象始终存在,与设置Debounce时间的长短无关,Debounce时间长只能让语音IC不响应此Short pulse,做相关动作,不能使语音IC不被唤醒。
  这种问题我们的经验是在Input上并联102电容和10K电阻到地解决,所加组件可以吸收Input上的干扰。加组件后测试2个小时后没有出现问题,输入Pulse后语音IC不再有动作,电流一直维持在0uA。说明输入到Input的信号全部被电容吸收。
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